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起搏动态 | 黄尚玮:植入型心脏电生理装置感染后完全移除、部分移除及电极拔除失败的预后比较

一项基于ESC-EHRA EORP European Lead Extraction ConTRolled ELECTRa注册研究的数据分析
       心脏电生理装置的植入数量在过去的数十年呈现显著的增长,然而,经静脉电极拔除术(TLE)的增长量却呈指数形式增长,甚至超过了植入术的增长速度。
       现有的植入型心脏电生理装置(CIED)指南推荐,一旦发生CIED感染,无论位于CIED何处的感染,均需完全移除CIED。因为根据现有的一些小型研究表明,若不完全移除CIED,易致感染复发,但这些研究并未阐明CIED初始感染的临床表现和CIED未完全移除患者复发或影响预后的相关因素。
       近年来,电极拔除技术从以往简单的牵拉拔除,到运用机械或激光鞘进行电极拔除,取得了很大的进展,但TLE依然存在一定的风险和死亡率,仍然颇具挑战性。此外,部分患者因技术等原因仍然无法完全移除CIED。然而,目前尚无感染后CIED部分移除对患者预后及与预后相关的预测因素的研究。
       本研究基于ESC-EHRA EORP European Lead Extraction ConTRolled ELECTRa注册研究,旨在明确影响CIED感染后未完全移除患者预后的预测因子。
 
研究方法
       数据来源及研究人群:本研究相关数据均来源于ESC-EHRA-EORP ELECTRa注册研究。该研究从2012年11月1日至2014年5月31日,共邀请116个欧洲中心参加,最终有来自19个国家的73个中心加入,共纳入3555例患者,其中3510例(98.7%)进行了TLE。其中1865/3510例(52.5%)因发生CIED感染而进行TLE。本研究仅纳入其中因CIED感染进行TLE的患者,共1865例。
       研究设计、定义和数据分析:
       电极拔除术:将牵引器插入电极中心腔并抵达电极头端,若带锁定功能牵引器,则将其锁定为一个整体,再牵引锁定钢丝和电极。若简单的牵引器无法拔除电极,可使用使用机械鞘或激光鞘等。手术所有步骤均记录在病例报告表中。
       手术成功或失败定义:
       行放射学检查,根据检查结果将患者分为三组:
       (1)“完全移除”:整个CIED系统均移除。
       (2)“部分移除”:大部分CIED被移除,仅留下4cm以内的线圈和/或绝缘层和/或电极尖端。
       (3)“手术失败”:≥4cm的电极尖端未拔除。
       如果有多根电极,则按遗留部分最多的电极进行分组。例如,若需拔除三根电极,一根电极完全移除,一根部分移,剩余一根有≥4cm的电极尖端未拔除,则该患者被归类为手术失败组。
       并发症分为主要并发症和次要并发症:
       (1)主要并发症包括:败血症、多器官衰竭、心包填塞、大血管撕裂、危及致命性心律失常、心力衰竭、急性心肌梗死、急性大量瓣膜返流或需要紧急手术的并发症。
       (2)次要并发症包括不需要心包穿刺或手术治疗的心包积液、无需胸引的血胸、需手术引流的手术部位血肿、手臂肿胀或植入静脉血栓形成、植入部位或植入的静脉入口附近的血管修复、血流动力学稳定的空气栓塞、有游离的残存电极碎片但无不良后果发生、与手术失血相关的输血、需胸引的气胸以及无需手术干预的肺栓塞。
       年手术量>30次,定义为高手术量中心,反之为低手术量中心。
       数据分析:
       对连续变量和分类变量进行单变量分析。连续变量结果以中位数和四分位数表示。组间分析采用Kruskal-Wallis检验。分类变量结果以百分比表示。组间比较采用卡方检验或Fisher精确试验。
       采用多变量logistic回归分析确定影响手术失败者预后的相关影响因素。通过多变量Cox回归分析进行死亡率分析,运用Kaplan-Meier方法和对数秩和检验分析三组患者出院时的生存率。
       双侧检验P值<0.05为具有统计学意义。所有的统计分析和图表均使用SAS统计软件版本9.4(SAS Institute,Inc.,Cary,NC,USA)进行。
 
研究结果
       病人及电极基线特征:
       1865名(占登记总数的52.5%)患者因感染原因进行电极拔除。其中1863名(99.9%)有完整手术资料。1743例(93.5%)完全拔除所有电极,88例(4.7%)部分拔除,32例(1.8%)手术失败。这三个患者组之间没有显著性差异。患者基线特征如表1所示。
表1:
  CIED基线资料如表2所示。部分移除或拔除失败组起搏器(PM)数量显著多于完全移除组(分别为76.1%和78.1% vs. 57.9%,P<0.0001),而ICD(分别为23.9%和21.9% vs. 38.6%,P=0.0001)则相反,即完全移除组的ICD显著多余其余两组。
表2:
 
  电极拔除手术失败与植入装置的类型或当初植入CIED的指针相关;因窦房结功能障碍而植入PM的患者,在完全移除组占38.6%,在部分移除组占26.9%,在拔除失败组占16%(P=0.0128)。完全性房室传导阻滞(AVB)患者则相反,分别为53.8%、59.7%及 76%(P=0.0627)(表2)。ICD患者比例在三组无显著差异。
  另研究发现部分移除及拔除失败组植入CIED时并发症的发生率显著高于完全移除组(≈59%和38%,P<0.0001),但在并发症类型方面无显著差异(表2)。此外,拔除失败组较其余两组手术次数明显增加,且在先前的手术过程中电极损伤明显增多。
  此外,部分移除及拔除失败组中某些特定电极明显较完全移除组多,如单极起搏电极、被动电极等。且拔除失败组从电极植入到拔除的时间显著长于其余两组[12.5年vs. 11年(部分移除组)vs. 5年(完全移除组),P<0.0001]。
  感染原因:
  从发现感染到电极拔除,拔除失败组时间显著长于其余两组[(81天vs. 56天(部分移除组)vs. 41天(完全移除组),P=0.0366)](表3)。然而出现局部CIED感染和全身CIED感染的患者电极拔除的成功率在三组之间基本相同(≈62%vs.≈36%)(表3)。感染的细菌类型在三组之间也无显著差异(表3)。此外,电极拔除与否与从开始使用抗生素到进行手术的时间(≈10天)之间未发现存在明显相关性(表3)。
表3:
  电极拔除手术:
  研究发现,电极能否完全拔除与术者(电生理医生or心脏外科医生)、手术地点(导管实验室or手术室)、手术量(手术量多的中心or手术量少的中心)均无明显性关系。
  表4总结了各中心电极拔除的方法和使用的工具。在60%的患者中,单靠普通牵引器无法拔除电极,需同时使用鞘管或其他工具。最常见的拔除途径是左上腔(≈68%(部分移除组及拔除失败组)vs. 80%(完全移除组),P=0.0016)。然而,在拔除失败或部分移除组,大多数术者均选择股静脉通路递送各种拔除工具(圈套、套索、猪尾巴导管、消融导管等)(表4)。拔除失败组中有31/48例(65%)转外科行手术拔除,而部分移除组无一例转外科手术。
表4:
  住院时间及并发症:
  三组间的平均住院时间无显著差异(分别为7天vs.8天vs.9天,P=0.169)(表5)。然而,拔除失败组的主要和次要并发症发生率明显高于其余两组[(40.6% vs. 15.9%(部分移除组)和8.7%(完全移除组),P<0.0001)](表5)。无论手术成功与否,有一半患者在住院期间重新植入CIED,且68%的患者植入的为与拔除的CIED同类型的机器(68%)(表5)。
表5:
  手术失败相关预测因子:
  多变量分析显示,电极植入时间越长,患者年龄越大(≥65岁),拔除失败的可能性越高[OR为1.14(1.08–1.19),P<0.0001,OR为2.68(1.22–5.91),P=0.0146](表7)。此外拔除ICD电极[OR为0.20(0.04–0.95),P=0.03]及拔除时未能锁定整根电极[OR为0.32(0.13–0.74),P=0.008]更易致拔除失败。
表7:
  患者基线特征多变量分析提示(表8),电极植入时间越长[OR为1.11(1.08-1.15),P<0.0001],电极数越多[OR为1.54(1.23-1.93),P=0.0001],拔除越困难,越易致部分拔除或拔除失败的结局。电极基线特征的多变量分析则提示,植入电极的时间越长[OR为1.10(1.06–1.13),P<0.0001]、是否使用鞘[OR为2.29(1.26–4.16),P=0.007]、是否使用其他工具[OR为3.02(1.43–6.42),P=0.004]、左室电极 [OR为2.69(0.72-10.05),P=0.01]均与能否认完全拔除密切相关。而双螺旋电极[OR 0.21(0.07–0.68),P=0.01]、主动电极[OR 0.73(0.46–1.14),P=0.009]较其余电极更易拔除。(表9)
 
  死亡率:
  共有5例患者术中死亡,完全拔除组4例,均为器械相关并发症所致(表5)。4例死于心包填塞,1例死于血胸。
  有42例(2.3%)在住院期间死亡,拔除失败组4例(12.5%),部分拔除组3例(3.4%),完全拔除组35例(2%)。运用Log Rank检验提示三组的死亡率存在显著差异(P=0.003)(图1)。
  此外,对整个ELECTRA登记的患者进行多变量分析显示,全身感染是死亡的高危因素[OR 2.05(1.01-4.16),P=0.046]。
 
研究结论
       CIED感染患者电极拔除失败率高达6.5%,而电极拔除失败可致感染扩散。当残存电极尖端≥4cm时,易致手术并发症的发生,同时死亡率明显增加。而残存电极尖端<4cm时,其预后与完全拔除相同,提示临床拔除电极时,若残存电极尖端<4cm,亦在临床可接受范围内,而不必强行拔除。当然,当代的电极拔除技术仍然有待进一步提高。

       摘译自:Comparison of outcomes in infected cardiovascular implantable electronic devices between complete, partial, and failed lead removal: an ESC-EHRA-EORP ELECTRa (European Lead Extraction ConTrolled) registry. Europace (2019) 0, 1–14 doi:10.1093/europace/euz269 .

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