好文速递 | Heart Rhythm ：CIED检测到的P波振幅是心房高频事件新发和进展风险的标志
研究背景
研究目的
研究方法
研究结论
心房高频事件（AHRE）在植入心脏植入式电子设备（CIED）患者中很常见。设备检测到的P波振幅降低可能预测AHRE风险增加。
该研究的目的是评估CIED所检测的P波振幅与AHRE发生率之间的关联。
研究共纳入2579例无心房颤动病史的患者（23%起搏器和77%植入型心律转复除颤器，其中40%提供心脏再同步治疗）。通过远程监测数据计算植入后1个月的平均P波振幅。通过调整CHA2DS2-VASc的风险比，根据每日的负荷将AHRE分为4个层次（≥15分钟、≥6小时、≥24 小时、≥7天）以研究P波振幅与AHRE的相关性。
研究结果
第一个月平均P波振幅每降低1mV的调整后风险比从1.10（95% 置信区间 [CI]，1.05-1.15;P< .001）升高至1.18（CI，1.09-1.28;P<0.001）。AHRE持续时间从≥15分钟到 ≥7天不等，并独立于CHA2DS2-VASc分数。在 871例AHRE患者中，1个月P波振幅<2.45mV的患者调整后风险比为1.51（CI，1.19-1.91;P= 0.001）与1个月P波振幅≥2.45 mV）相比，AHRE从≥15分钟进展到≥7天发生率增高。在第一次AHRE之前的1年内，设备检测到的P波振幅线性下降了7.3%（CI，5.1%-9.5%;P< 0.001 vs 无AHRE的患者）。
设备检测到的P波振幅<2.45mV与AHRE发生和进展为持续性AHRE的风险增加有关，这与患者的风险状况无关。
图.KM曲线:根据1个月平均p波振幅≥2.45 mV或<2.45 mV和AHRE分层绘制心房高频事件发生率
